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2023-10-18Aix XinLe

金属首饰生产公司质检部门的内部会议中，针对近期的贵金属首饰分析问题正在进行热烈的讨论，似乎他们遇到了难题，到底是什么呢?

金属首饰生产公司质检部门的内部会议中，针对近期的贵金属首饰分析问题正在进行热烈的讨论，似乎他们遇到了难题，到底是什么呢？一起来看看！

EDX专利技术解决难题样品中的构成元素经过光源X射线激发后，发出特征荧光X射线，元素含量与荧光X射线强度之间存在着函数关系基本参数法使用灵敏度系数f为校正因子，灵敏度系数为测试强度和理论强度的比值（f=I测/I理），使用贵金属标准样品进行校准。

金属镀层对贵金属基体元素的荧光强度存在不同程度的影响，常规贵金属分析方法中理论强度的计算没有考虑镀层的影响，按照常规贵金属分析方法计算的分析结果会产生偏差专利技术引入了含镀层贵金属元素的理论强度算法，修正了镀层元素对贵金属基体组成元素理论强度的影响，使得原有的函数关系仍然成立，校正了含镀层贵金属基体成分的分析结果。

一次分析，就可以得到镀层厚度、基材贵金属成分的结果应用案例分享取含铑镀层贵金属样品（以黄金镀铑样品为例），分别使用常规分析条件（常规）、专利分析条件（专利）分析含铑镀层黄金样品，统计比较测试结果，评估镀层对测试结果的影响及专利分析条件的修正效果。

表1 对比测试结果常规&专利测试方法的分析误差比较见图2 。

图2 不同方法分析误差比较由上可以看出，（常规）分析含铑镀层黄金样品，黄金中贵重金属元素Au的结果偏差较大，并随着镀层厚度的增加，分析偏差值呈现加大的趋势采用（专利）分析含铑镀层黄金样品，分析结果与参考值结果一致，表明专用分析条件（专利）对含铑镀层黄金样品分析结果有很好的修正效果，可以实现无损的快速分析。

另外，常规方法只能分析成分，专利分析方法可以同时测试出镀层厚度和基材成分。